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EVA體積表面電阻率測試儀

簡要描述:ATI-530型 EVA體積表面電阻率測試儀 量限從1×104Ω~1×1018 Ω,是目前國內(nèi)測量范圍0寬,準(zhǔn)確度0高的數(shù)字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。機(jī)內(nèi)測試電壓為100/250/500/1000V任意可調(diào)。

  • 產(chǎn)品型號:ATI-530型
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-08-21
  • 訪  問  量:2324

詳細(xì)介紹

品牌AIRTIMES/中航時代產(chǎn)地類別國產(chǎn)

機(jī)臺型號:ATI-530型 EVA體積表面電阻率測試儀

符合標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 10581-2006《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法》 

GB/T 1692-2008《硫化橡膠絕緣電阻率的測定》 

GB/T 12703.4-2010《紡織品 靜電性能的評定 第4部分:電阻率》 

GB/T 10064-2006《測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法》

GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》 

ASTM D257-99 《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法》 

GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑性橡膠 導(dǎo)電性能和耗散性能電阻率的測定》

一、概述

量限從1×104Ω~1×1018 Ω,是目前國內(nèi)測量范圍0寬,準(zhǔn)確度0高的數(shù)字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。機(jī)內(nèi)測試電壓為100/250/500/1000V任意可調(diào)。本儀器既可測量高電阻,又可測微電流。采用了美國Intel公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計和電流。

二、主要特點

ATI-530型 EVA體積表面電阻率測試儀所有測試電壓(100/250/500/1000V) 測試時電阻結(jié)果直讀,免去老式高阻計在不同測試電壓下或不同量程時要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩,使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。既能測超高電阻又能測微電流

電阻測量范圍寬:0.01×104Ω~1×1018Ω

電流測量范圍為:2×10-4A~1×10-16A

體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高

電阻、電流雙顯示

性能好穩(wěn)定、讀數(shù)方便

三、技術(shù)指標(biāo)

1、電阻測量范圍:0.01×104Ω~1×1018Ω

2、電流測量范圍為:2×10-4A~1×10-16A

3、雙表頭顯示:3.1/2位LED顯示

4、內(nèi)置測試電壓:100V、250V、500V、1000V

5、基本準(zhǔn)確度:2% (*注)

6、內(nèi)置測試電壓:10V、25V、100V、250、500、1000V

7、使用環(huán)境:溫度:0℃~40℃相對濕度<80%

8、供電形式:AC 220V,50HZ,功耗約5W

9、儀器尺寸:285mm× 245mm× 120 mm

10、質(zhì)量:約2.5KG

四、工作原理

本儀器是同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I,通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計算,然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值,即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時變化,其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流I的變化而變,所以,即使測量電壓、被測量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對其結(jié)果影響不大,其測量精度很高(0),從理論上講其誤差可以做到零,而實際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。

根據(jù)歐姆定律,被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計的工作原理是測量電壓V固定,通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出,由于電流I是與電阻成反比,而不是成正比,所以電阻的顯示值是非線性的,即電阻無窮大時,電流為零,即表頭的零位處是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時,其電壓V也會有些變化,所以普通的高阻計是精度差、分辨率低。

典型應(yīng)用

1.硫化橡膠體積、表面電阻率測定

2.測量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值

3.測量防靜電材料的電阻及電阻率

4.測量計算機(jī)房用活動地板的系統(tǒng)電阻值

5.測量絕緣材料電阻(率)

6.光電二極管暗電流測量

7.物理,光學(xué)和材料研究

8.高分子材料表面體積電阻率測定

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