簡(jiǎn)要描述:ZJD-B全數(shù)字顯示介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻,音頻,高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》(等效采用IEC 60250)設(shè)計(jì)和制造的,并符合JB7770等試驗(yàn)方法.它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測(cè)試.
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | AIRTIMES/中航時(shí)代 |
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介電常數(shù)試驗(yàn)儀ZJD-B【數(shù)字式】介紹
ZJD-B全數(shù)字顯示介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》(等效采用IEC60250)設(shè)計(jì)和制造的,并符合JB7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測(cè)試。
ZJD-B數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀讀書清晰,無(wú)須換算,操作簡(jiǎn)便,特別適合電子元器件的質(zhì)量分析,品質(zhì)控制,科研生產(chǎn),也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學(xué)等專業(yè)作科研實(shí)驗(yàn)儀器.
技術(shù)參數(shù)
信號(hào)源頻率范圍 |
DDS數(shù)字合成 10KHz-60MHz |
Q測(cè)量范圍 |
1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 |
信號(hào)源頻率覆蓋比 |
6000:1 |
Q分辨率 |
4位有效數(shù),分辨率0.1 |
信號(hào)源頻率精度 |
3X10 -5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù) |
Q測(cè)量工作誤差 |
<5% |
電感測(cè)量范圍 |
15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH |
調(diào)諧電容 |
主電容30-500PF |
電感測(cè)量誤差 |
<5% |
調(diào)諧電容誤差和分辨率 |
±1.5P或<1% |
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量頻點(diǎn) |
全波段任意頻率下均可測(cè)試 |
Q合格預(yù)置范圍 |
5-1000聲光提示 |
諧振點(diǎn)搜索 |
自動(dòng)掃描 |
Q量程切換 |
自動(dòng)/手動(dòng) |
諧振指針 |
LCD顯示 |
LCD顯示參數(shù) |
F,L,C,Q,波段等 |
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ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
儀器介紹
ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》(等效采用IEC60250)設(shè)計(jì)和制造的,并符合JB7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)
1Q值測(cè)量范圍:5~999
Q值量程分檔:30、100、300、999、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換擋
誤差:25kHz~10MHz≤5%±滿度值的2%
10MHz~50MHz≤7%±滿度值的2%
2電感測(cè)量范圍:0.1μH~1H分七個(gè)量程
3電容測(cè)量范圍:1PF~460PF
主電容調(diào)節(jié)范圍:40PF~500PF
準(zhǔn)確度:150PF以下±1.5PF
150PF以上±1%
微調(diào)電容調(diào)節(jié)范圍:-3PF~0PF~+3PF
準(zhǔn)確度:±0.2PF
4頻率覆蓋范圍:25kHz~50MHz分七段
指示誤差:2×10-4±2個(gè)字
5電源:220V±22V50Hz±2.5Hz25W
6環(huán)境溫度:(0~+40)℃
7相對(duì)濕度:RH<80%
8外形尺寸:380mm×132mm×280mm
9重量:約7kg
ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
儀器介紹
ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》(等效采用IEC60250)設(shè)計(jì)和制造的,并符合JB7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)
ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù):
1雙掃描技術(shù)-測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
2雙測(cè)試要素輸入-測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。
3雙數(shù)碼化調(diào)諧-數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
4自動(dòng)化測(cè)量技術(shù)-對(duì)測(cè)試件實(shí)施Q值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
5全參數(shù)液晶顯示–數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、Q值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
6DDS數(shù)字直接合成的信號(hào)源-確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
7計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化—使測(cè)試回路殘余電感減至zui低,**Q讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì),無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具,測(cè)量值更為精確,測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì),無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。
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主要技術(shù)特性 |
Q 值測(cè)量范圍 |
2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔 |
固有誤差 |
≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz) |
工作誤差 |
≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz) |
電感測(cè)量范圍 |
4.5nH ~ 140mH |
電容直接測(cè)量范圍 |
1 ~ 200pF |
主電容調(diào)節(jié)范圍 |
18 ~ 220pF |
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度 |
120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1 % |
信號(hào)源頻率覆蓋范圍 |
100kHz ~ 160MHz |
頻率分段 ( 虛擬 ) |
100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz |
頻率指示誤差 |
3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字 |
中航產(chǎn)品保修承諾:
1、設(shè)備保修兩年,終身服務(wù),三年內(nèi)非人為損壞的零部件免費(fèi)更換,保修期內(nèi)接到用戶邀請(qǐng)后,zui遲響應(yīng)時(shí)間為2小時(shí)內(nèi),在與用戶確認(rèn)故障后,我公司會(huì)在48小時(shí)內(nèi)派工程師到達(dá)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行免費(fèi)服務(wù),盡快查清故障所在位置和故障原因,并向用戶及時(shí)報(bào)告故障的原因和排除辦法。
2、保修期內(nèi)人為損壞的零部件按采購(gòu)(加工)價(jià)格收費(fèi)更換。
3、保修期外繼續(xù)為用戶提供優(yōu)質(zhì)技術(shù)服務(wù),在接到用戶維修邀請(qǐng)后3天內(nèi)派工程師到達(dá)用戶現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行維修。并享有優(yōu)惠購(gòu)買零配件的待遇。
4、傳感器過(guò)載及整機(jī)電路超壓損壞不在保修范圍內(nèi)。
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