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適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。本儀器除能測電阻外，還能直接測量微弱電流。

ZJD-C介電常數(shù)測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)Z高的160MHz。

根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

ZJD-B介電常數(shù)測試儀是一種多功能、多用途、多量程數(shù)字的化阻抗測試儀器。它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。

?本公司創(chuàng)新的自動Q值讀取技術(shù)，測Q精度和速度大大提高。 ?低至20nH殘余電感，保證高頻時直讀Q值的誤差較小。 ?特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。 ?Q值量程自動/手動量程控制。 ?數(shù)字化Q值予置，能提高批量測試的可靠性和速度。 ?VCO調(diào)節(jié)測試頻率，其平滑的連續(xù)頻率變化，能便捷的進行△f法測量Q值。

ZJD-C介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學校、工廠等單位。