電介質(zhì)的損耗及其影響因素
影響電介質(zhì)損耗的因素主要有溫度、頻率和電壓。不同的電介質(zhì)所具有的損耗形式不同,從而溫度、頻率和電壓對電介質(zhì)損耗的影響也不同。
1)氣體電介質(zhì)的損耗
氣體電介質(zhì)的相對介電常數(shù)εr接近1,極化是輕微的,因此氣體電介質(zhì)損耗僅由電導(dǎo)引起。當(dāng)外加電壓低于氣體的起始放電電壓時,氣體電介質(zhì)的電導(dǎo)也是極小的,所以氣體電介質(zhì)的損耗很小,受溫度和頻率的影響都不大。因此,實際工程中,常用氣體作為標(biāo)準(zhǔn)電容器的介質(zhì)。當(dāng)外加電壓超過氣體的起始放電電壓時,氣體將發(fā)生局部放電,損耗急劇增加,如圖3-15所示。
2)液體和固體電介質(zhì)的損耗
非極性或弱極性的液體、固體及結(jié)構(gòu)較緊密的離子性電介質(zhì),它們的極化形式主要是電子位移極化和離子位移極化,沒有能量損耗,因此這類電介質(zhì)的損耗主要由電導(dǎo)引起,tanδ較小。頻率對其損耗沒有影響,溫度對這類介質(zhì)損耗的影響與溫度對電導(dǎo)的影響相似,即tanδ 隨溫度的升高也是按指數(shù)規(guī)律增大。
極性液體、固體及結(jié)構(gòu)不緊密的離子性電介質(zhì),除具有電導(dǎo)損耗外,還有極化損耗,因此tanδ較大,而且和溫度、頻率等因素有較復(fù)雜的關(guān)系,如圖3-16所示(曲線1對應(yīng)于頻率f1,曲線2對應(yīng)于頻率f2,f1< f2)。圖中曲線有極大值和極小值,首先分析電源頻率為f1時的情況,在溫度較低(t<t1)時,電導(dǎo)損耗和極化損耗都很小,隨溫度的升高,偶極子轉(zhuǎn)向容易,從而使極化損耗顯著增加,同時電導(dǎo)損耗也隨溫度升高而略有增加,因此在這一范圍內(nèi)tanδ隨溫度的升高而增大。當(dāng)t=t1時,偶極子轉(zhuǎn)向角已達(dá)最大值,總的介質(zhì)損耗達(dá)到最太值,當(dāng)溫度繼續(xù)升高(t1<t<t2)時,分子熱運動加劇,阻礙了偶極子在電場作用下做規(guī)則排列,轉(zhuǎn)向極化減弱,極化損耗減小,在此階段雖然電導(dǎo)損耗隨溫度的升高仍是增加的,但其增加的程度比極化損耗減小的程度小,因此在這一范圍內(nèi)tanδ是隨溫度升高而減小的,當(dāng)t=t2時,總損耗達(dá)到最小值。當(dāng)溫度進(jìn)一步升高(t>t2)時,電導(dǎo)損耗隨溫度的升高而急劇增加,此時總損耗以電導(dǎo)損耗為主,因此隨著溫度的升高,介質(zhì)損耗也隨之急劇增大。由圖3-16可見,當(dāng)電源頻率增高時,整個曲線右移,這是因為在較高的頻率下,偶極子來不及充分轉(zhuǎn)向,要使轉(zhuǎn)向極化充分進(jìn)行,就必須減小粘滯性(即升高溫度)。
4.討論tanδ的意義
1)選擇絕緣材料
設(shè)計絕緣結(jié)構(gòu)時,必須注意絕緣材料的tanδ,其值過大會引起嚴(yán)重發(fā)熱,容易使材料劣化,甚至導(dǎo)致熱擊穿。例如用蓖麻油制造的電容器就因為tanδ大,而僅限于直流或脈沖電壓下使用,不能用于交流電壓下。
2)在絕緣預(yù)防性試驗中判斷絕緣狀況
當(dāng)絕緣受潮或劣化時,tanδ將急劇上升,也可以通過tanδ與U的關(guān)系曲線加以判斷是否發(fā)生局部放電。
3)介質(zhì)損耗引起的發(fā)熱可以利用
當(dāng)tanδ大的材料需要加熱時,可以對材料加交流(工頻或高頻)電壓,利用材料本身介質(zhì)損耗的發(fā)熱。如電瓷生產(chǎn)中對泥坯加熱即是在泥坯兩端加上交流電壓,利用介質(zhì)損耗發(fā)熱加速泥坯的干燥過程。由于這種方法是利用材料本身介質(zhì)損耗的發(fā)熱,所以加熱非常均勻。
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